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产品名称:

徕卡LEICA正置偏光显微镜

产品类别:
徕卡LEICA正置偏光显微镜​
无应力光学部件,因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件
LED 照明至关重要,因为这种照明能够均匀照亮样品,并具有恒定的色温
偏光镜帮助您看到双折射,旋转台帮助您对准样品和光轴
您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器
  • 详细内容

徕卡LEICA正置偏光显微镜​

徕卡正置偏光显微镜助您获得*结果

您需要一些组件来实现偏光研究目标。以下都是zui重要的组件:

  • 无应力光学部件,因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件
  • LED 照明至关重要,因为这种照明能够均匀照亮样品,并具有恒定的色温
  • 偏光镜帮助您看到双折射,旋转台帮助您对准样品和光轴
  • 您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器 

徕卡正置偏光显微镜采用无应力光学部件

 

恰到好处的照明!

徕卡正置偏光显微镜采用LED 照明,较卤素照明优势更加明显:

  • 它比卤素照明消耗的能源少,而且无需更换,不会导致机器停机
  • LED 使用寿命长达 25,000 小时
  • LED 为样品提供均匀照明,色温恒定,为您提供真实的样品形貌
  • LED 可快速调整光强,让您的工作顺畅无阻
  • LED 无需日光滤镜,因为它已经提供了 4500 K 恒定光温
  • LED 产生的热量少,因此无需冷却风扇
  • LED 可帮助您营造安静无干扰的工作环境,因为没有冷却风扇在周围产生噪音

 

徕卡正置偏光显微镜采用LED照明

Leica DM4 P:*服务唾手可得

如果您想在偏光显微镜下进行各种操作,可以使用 Leica DM4 P 半自动正置偏光显微镜。

通过编码组件存储和调用信息

  • 想要更换物镜时,可通过照明强度控制和对比度管理器调用照明强度和光阑的设置。
  • 得益于编码物镜转盘的存在,摄取的图像始终得到校准。 

辨识感兴趣的结构

  • 25-mm 大视场为您带来*的概览图像。
  • 为您展现所需具体信息的往往是低放大倍率下的整体图,而不是细节图 — 比如流动结构、变形结构或冷却过程造成的带状排列结构。

让物镜转盘来应对!

物镜转盘配备 6 个物镜并具有不同放大倍率,获取丰富的样品信息。

  • 使用 2.5 倍概览物镜可识别样品中的宏观结构
  • 如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究,可切换为 63 倍放大倍率
  • 切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应

而且物镜转盘也是编码的,可为您提供智能支持。

两种照明物尽其用

您可以将 Leica DM4 P 偏光显微镜配置为 LED 照明使用透射光或入射光,也可以一次性配置为使用两种光源。

  • 进行反射率测量时必须使用入射光,例如观察矿石或煤炭。
  • 进行双折射测量时则需要使用透射光,例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。
  • 在地质研究等特殊应用中,两种光都*。

当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时,相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。

研究光学属性

锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关研究材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。

Leica DM4 P 非常适用于锥光法:

  • 具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的*条件。
  • 使用特殊 63 倍徕卡物镜,能满足偏振等级 5 的zui高要求,从而获取*结果。

 

强散色 Brookit (TiO2) 锥光图
方解石厚片的单轴干涉图,垂直于光轴
黑云母晶体薄片圆偏光双轴干涉图,对角位置。光轴位置清晰可辨

 

*灵活性:Leica DM2700 P

如果您不需要全自动化和zui大可再现性,Leica DM2700 P 就是您的*仪器选择。除自动化以外,它还能提供毫不逊色于 Leica DM4 P 的灵活性。

  • 在 5 倍可调中物镜转盘上使用 5 个物镜获取准确无误的样品信息
  • 在 22-mm 视场中获得大概览图
  • 借助入射光观测的 UC-3D 照明,获得效果更佳的对比度

教学*:Leica DM750 P

在教学中,您需要一种可供学生们日常使用的耐用工具。使用简单,即插即用 — 这是成功教学的*先决条件。

  • 使用 4 个物镜细致入微地了解您的样品
  • 采用 20-mm 视场,样品概览,一目了然
  • 享受仪器带来的实用细节:使用手柄就可以搬动,电缆线可隐藏在仪器中
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